WEP084 　加速器技術／ビーム診断・制御　 8月5日 小ホール 13:00 - 15:00

JAEA AVFサイクロトロンにおけるエミッタンス・アクセプタンス測定装置を用いた入射調整の予備試験

Preliminary test of injection tuning using an emittance and acceptance measurement system at the JAEA AVF cyclotron

○柏木 啓次，宮脇 信正，倉島 俊，奥村 進（原子力機構高崎）

○Hirotsugu Kashiwagi, Nobumasa Miyawaki, Satoshi Kurashima, Susumu Okumura (JAEA Takasaki)

原子力機構高崎研ではAVFサイクロトロン(K=110)へのビームの入射調整を最適化するためのツールとして、入射ビームの横方向エミッタンスとサイクロトロンの横方向アクセプタンスを計測する装置を開発した。本装置によって測定したアクセプタンスとエミッタンスの重複領域を増やすことで実際の加速ビーム電流が増加することを確認するため、エミッタンス・アクセプタンス測定装置の上流・下流に設置された２台のステアリング電磁石を用いて調整を行った。まず、調整に必要となる、ステアリング電磁石の励磁電流とエミッタンスおよびアクセプタンスの重心の位相平面座標の変化を測定した。この結果を基にエミッタンスとアクセプタンスの重心が同座標となるような条件で電磁石を励磁し、調整を行った結果、加速ビーム電流が増加することを確認した。これによりエミッタンス・アクセプタンス測定装置による測定結果を基にした調整が有効であることを確認できた。